特許
J-GLOBAL ID：200903091437628166
半田付け検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
曾我 道照 (外9名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-244738
公開番号（公開出願番号）：特開平5-052534
出願日： 1991年08月29日
公開日（公表日）： 1993年03月02日
要約：
【要約】【目的】 半田付けの良否を判定するのに複数の照明から半田付けの3次元形状を高速に把握する半田付け検査装置を得る。【構成】 基板に半田付けされた電子部品の半田付け部14鉛直上方の照明1と半田付け部斜め上方に円周上に配置した複数の照明2〜7によって構成される照明手段と、その照明が当てられた半田付け部を撮像する撮像手段8、9と、その半田付け部の画像から半田付け部に照明された反射光の位置を測定する計測手段11と、上記撮像手段と計測手段及び照明手段などを制御する制御手段10と、上記複数の照明手段より得られた反射光の位置を、半田付け部の鉛直上方の照明の反射光位置を中心とした動径および偏角で表現し、それらの値がそれぞれの指定された値に入っているか否かで半田付けの良否を判定する判定手段12を備えた。
請求項（抜粋）：
基板に半田付けされた電子部品の半田付け部鉛直上方の照明と半田付け部斜め上方に円周上に配置した複数の照明によって構成される照明手段と、その照明が当てられた半田付け部を撮像する撮像手段と、その半田付け部の画像から半田付け部に照明された反射光の位置を測定する計測手段と、上記撮像手段と計測手段及び照明手段などを制御する制御手段と、上記複数の照明手段より得られた反射光の位置を、半田付け部の鉛直上方の照明の反射光位置を中心とした動径および偏角で表現し、それらの値がそれぞれの指定された値に入っているか否かで半田付けの良否を判定する判定手段を備えたことを特徴とする半田付け検査装置。
IPC (3件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, H05K 3/34
