特許
J-GLOBAL ID：200903091521548437
光パルス試験器
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-186902
公開番号（公開出願番号）：特開平7-020003
出願日： 1993年06月30日
公開日（公表日）： 1995年01月24日
要約：
【要約】【目的】 ASEを低減させ、光検出器で発生するショット雑音を小さくして、ダイナミックレンジを広くする。また、波長λaの光の歪を少なくし、光フィルタ6の出力光の歪を少なくする、光パルス試験器の距離精度を良くする。【構成】 パルス光源1は波長λaのパルス光12を出力し、変調器2で強度変調信号13を出力して光源3で波長λbの強度変調光14を出力し、光合波器4でパルス光12と強度変調光14を合波して光増幅器5に入射し、光フィルタ6で信号光18から波長λaの光を取り出し、他の波長の光を減衰させて信号光15を出力し、光分波器7は信号光15を通過し、光ファイバ11で発生した後方散乱光を分波し、分波光19を光検出器8に入力して電気信号に変換し、演算部9で光検出器8の出力に対数変換等の処理を行い、処理結果を表示部10に表示する。
請求項（抜粋）：
波長λaのパルス光(12)を出力するパルス光源(1) と、強度変調信号(13)を出力する変調器(2) と、波長λaと異なる波長λbの強度変調光(14)を出力する光源(3) と、パルス光(12)と強度変調光(14)を合波し信号光(17)を出力する光合波器(4) と、信号光(17)を増幅し信号光(18)を出力する光増幅器(5) と、信号光(18)から波長λaの光を取り出し、他の波長の光を減衰させて信号光(15)を出力する光フィルタ(6) と、信号光(15)を通過し、光ファイバ(11)で発生した後方散乱光を分波し、分波光(19)を出力する光分波器(7) と、分波光(19)を電気信号に変換する光検出器(8) と、光検出器(8) の出力に対数変換等の処理を行う演算部(9) と、演算部(9) の結果を表示する表示部(10)とを備えることを特徴とする光パルス試験器。
IPC (2件)：
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