特許

J-GLOBAL ID：200903091547494890

計量機器の遠隔校正システム、および方法

発明者： 吉田 春雄 ,  松本 弘一 ,  檜野 良穂 ,  新井 優 ,  中沢 正隆
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-154940
公開番号（公開出願番号）：特開2007-263977
出願日： 2007年06月12日
公開日（公表日）： 2007年10月11日
要約：

【課題】精密計測を行うための基準量を遠隔供給することにより、被校正機関あるいは産業界の利用者の現場における遠隔校正、および、その認証を行う。【解決手段】計測標準量を通信に適したパラメータに変換し、あるいは通信に適したパラメータとして生成して遠隔地(2)に送り、あるいは通信に適しない場合は輸送に適した形態の計測標準量にして遠隔地(2)に送り、到着した地点において計測標準に復元することにより校正を可能ならしめ、その結果を認証する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

遠隔地にある計量機器を校正するシステムであって、 高精度の標準を有する標準機関側においては、 計測の基準となる物理標準量もしくは化学標準量またはこれらの物理的仲介器を輸送する輸送手段を備え; 前記物理標準量もしくは化学標準量またはこれらの物理的仲介器を受け取った当該遠隔地側においては、 前記物理標準量もしくは化学標準量またはこれらの物理的仲介器に基づいて被校正機器を校正する校正手段を備え; 前記校正手段の不確かさ評価を伴った精密測定の結果による校正の値を、前記高精度の標準を有する標準機関側に備えた認証手段が認証することを特徴とする、計量機器の遠隔校正システム。

IPC (1件)：

G01D 18/00

FI (1件)：

G01D18/00

Fターム (5件)：

2F076AA01 ,  2F076BD04 ,  2F076BD06 ,  2F076BD07 ,  2F076BE17

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 計量機器の遠隔校正システム、および、計量機器の遠隔校正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-123782   出願人：独立行政法人産業技術総合研究所