特許

J-GLOBAL ID：200903091641115909

膜-電極接合体の短絡検査方法及び短絡検査装置

発明者： 土井 博
出願人/特許権者： トヨタ自動車株式会社
代理人 (1件)： 大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-346421
公開番号（公開出願番号）：特開2003-151603
出願日： 2001年11月12日
公開日（公表日）： 2003年05月23日
要約：

【要約】【課題】操作性に優れたMEAの短絡検査方法及び装置を提供すること。【解決手段】MEA90の両面に密着するように測定電極1、2を当接する当接工程と、両面に当接させた測定電極1、2を介してMEA90の膜厚方向の電気抵抗を測定する測定工程と、MEA90から測定電極1、2を離す離隔工程と、を有し、測定電極1は、MEA90と当接する部分の少なくとも一部に、MEA90への当接圧力により測定電極1の当接面を非平面形状からMEA90に密着できる平面形状に変形し、当接圧力を減ずると平面形状から非平面形状に変形する易変形部材11をもつことを特徴とする。つまり、測定電極1が、MEA90との当接、離隔により容易に変形する易変形部材11をもつことで、測定電極1とMEA90との密着性を制御することが可能となる結果、短絡測定後に、測定電極1、2のうち、望む測定電極との付着を抑制することが可能となった。

請求項（抜粋）：

電解質膜と該電解質膜の両面に形成された電極層とをもつ膜-電極接合体の両面に密着するように2以上の測定電極を当接する当接工程と、該両面に当接させた該測定電極を介して該膜-電極接合体の膜厚方向の電気抵抗を測定する測定工程と、該膜-電極接合体から該測定電極を離す離隔工程と、を有し、前記測定電極は、前記膜-電極接合体と当接する部分の少なくとも一部に、該膜-電極接合体への当接圧力により該測定電極の当接面を非平面形状から該膜-電極接合体に密着できる平面形状に変形し、該当接圧力を減ずると平面形状から非平面形状に変形する易変形部材をもつことを特徴とする膜-電極接合体の短絡検査方法。

IPC (3件)：

H01M 8/04 ,  G01R 31/02 ,  H01M 8/10

FI (3件)：

H01M 8/04 Z ,  G01R 31/02 ,  H01M 8/10

Fターム (5件)：

2G014AA03 ,  2G014AB61 ,  2G014AC18 ,  5H026AA06 ,  5H027AA06