特許

J-GLOBAL ID：200903091657527255

試料の熱物性評価方法及びその装置

発明者： 住江 伸吾 ,  高松 弘行 ,  森本 勉
出願人/特許権者： 株式会社神戸製鋼所
代理人 (1件)： 本庄 武男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-001558
公開番号（公開出願番号）：特開平6-201619
出願日： 1993年01月08日
公開日（公表日）： 1994年07月22日
要約：

【要約】【目的】 測定状態のいかんに拘らず被測定試料の熱物性を常に正確に評価しうる試料の熱物性評価方法及びその装置。【構成】 基準状態Sでの熱膨張量が既知である基準試料K1,K2の上記熱膨張量K1(S),K2(S)を予めメモリ9に記憶しておき,測定器10により基準試料K1,K2と被測定試料Uとの各熱膨張量を略同一の測定状態Mの下で光干渉法を用いて測定し,演算器11により基準試料K1,K2の測定値PK1(M),PK2(M)の上記既知量PK1(S),PK2(S)からの変化に基づいて被測定試料Uの測定値PU(M)を補正することにより被測定試料Uの熱物性を示す基準状態Sでの熱膨張量PU(S)を演算するように構成されている。上記構成により測定状態のいかんに拘らず被測定試料の熱物性を常に正確に評価することができる。

請求項（抜粋）：

試料に励起光を照射し,該励起光の照射による上記試料の光熱変位を光干渉法を用いて測定する試料の熱物性評価方法において,基準状態での光熱変位が既知である少なくとも1つの基準試料の上記基準状態での光熱変位を予めメモリに記憶しておき,上記基準試料と被測定試料との各光熱変位を略同一の測定状態下で測定し,上記測定された基準試料の光熱変位の上記メモリに記憶された基準状態での光熱変位からの変化に基づいて上記測定された被測定試料の光熱変位を補正することにより,該被測定試料の熱物性を示す基準状態での光熱変位を演算してなることを特徴とする試料の熱物性評価方法。

IPC (2件)：

G01N 25/16 ,  G01N 21/00

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平3-269346
  
• 特開平4-273048
  
• 特開平3-137550