特許

J-GLOBAL ID：200903091663346572

電気的特性測定用ホットプレート

発明者： 富澤 睦
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 山下 亮一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-401051
公開番号（公開出願番号）：特開2002-202333
出願日： 2000年12月28日
公開日（公表日）： 2002年07月19日
要約：

【要約】【目的】 被測定電子部品を所定温度で均一に加熱することができ、簡単に被測定電子部品の高温時の電気的特性を測定することができる電気的特性測定用ホットプレートを提供すること。【構成】 被測定電子部品8を所定の温度に加熱する電気的特性測定用ホットプレート1において、前記被測定電子部品8を均一な所定温度に加熱するための被測定電子部品形状に近似した穴10を形成し、該穴10に被測定電子部品8を押圧固定するための板バネ2を設ける。本発明によれば、被測定電子部品形状に近似した穴10に被測定電子部品8を装着するため、外気の影響を受け難く、被測定電子部品8を均一な所定温度に加熱することができ、板バネ2により被測定電子部品8を押圧固定するため、該被測定電子部品8の簡単に脱着が可能となり、被測定電子部品8の高温時の電気的特性を容易に測定することができる。

請求項（抜粋）：

被測定電子部品を所定の温度に加熱する電気的特性測定用ホットプレートにおいて、前記被測定電子部品を均一な所定温度に加熱するための被測定電子部品形状に近似した穴を形成し、該穴に被測定電子部品を押圧固定するための板バネを設けたことを特徴とする電気的特性測定用ホットプレート。

IPC (2件)：

G01R 31/00 ,  G01R 31/26

FI (2件)：

G01R 31/00 ,  G01R 31/26 H

Fターム (8件)：

2G003AA00 ,  2G003AC03 ,  2G003AD03 ,  2G003AH04 ,  2G003AH05 ,  2G036AA28 ,  2G036BB00 ,  2G036CA09