特許

J-GLOBAL ID：200903091664747848

物質の分析方法

発明者： 福岡隆夫 ,  中村圭太郎 ,  森康維
出願人/特許権者： 福岡 隆夫
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2001001854
公開番号（公開出願番号）：WO2002-073164
出願日： 2001年03月09日
公開日（公表日）： 2002年09月19日
要約：

群をなして存在し、表面増強効果を発揮する疎液性微粒子の分散相中に、該疎液性微粒子よりも分散性の高い微粒子を、該疎液性微粒子群の周囲を覆うに十分にたる濃度で共存させてなる分散複合体に、測定対象物質を含む流体を接触させ、光学的計測手段を用いて、測定対象物質を分析することを特徴とする物質の分析方法。微量物質あるいは低濃度物質の分析に有用である。

請求項（抜粋）：

群をなして存在し、表面増強効果を発揮する疎液性微粒子の分散相中に、該疎液性微粒子よりも分散性の高い微粒子を、該疎液性微粒子群の周囲を覆うに十分にたる濃度で共存させてなる分散複合体に、測定対象物質を含む流体を接触させ、光学的計測手段を用いて、測定対象物質を分析することを特徴とする物質の分析方法。

IPC (5件)：

G01N21/65 ,  G01N21/35 ,  G01N33/536 ,  G01N33/552 ,  G01N33/553

FI (5件)：

G01N21/65 ,  G01N21/35 Z ,  G01N33/536 F ,  G01N33/552 ,  G01N33/553