特許
J-GLOBAL ID:200903091718357668

表面選択的非線形光学技法を使用してプローブ-ターゲット相互作用を検出する方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 平木 祐輔 ,  藤田 節 ,  石井 貞次
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-546760
公開番号(公開出願番号):特表2004-521323
出願日: 2001年07月17日
公開日(公表日): 2004年07月15日
要約:
第二高調波発生、和周波数発生などの表面選択的非線形光学技法を使用して、表面に付着したプローブと標識されたターゲットとの間の反応を検出し、または表面の画像化を実行する。表面選択的光学技法によって、サンプル・バルク中に存在するターゲット成分は無視して、界面の近くのターゲット成分だけを検出することができる。さらに、表面からの非線形光の方向が明確に規定された方向に散乱し、そのため、表面から離れた距離にある検出器への非線形光の入射を、表面の特定の既知の位置に容易にマップすることができる。
請求項(抜粋):
付着したプローブと標識されたターゲットとの間の界面での相互作用を測定するための方法であって、前記付着したプローブと前記標識されたターゲットとの間の前記界面での前記相互作用の影響を、表面選択的非線形光学技法を使用して測定することを含む方法。
IPC (9件):
G01N21/63 ,  C12M1/00 ,  C12M1/34 ,  C12Q1/68 ,  G01N21/64 ,  G01N33/15 ,  G01N33/50 ,  G01N33/53 ,  G01N37/00
FI (10件):
G01N21/63 Z ,  C12M1/00 A ,  C12M1/34 Z ,  C12Q1/68 A ,  G01N21/64 G ,  G01N33/15 Z ,  G01N33/50 Z ,  G01N33/53 D ,  G01N33/53 M ,  G01N37/00 102
Fターム (58件):
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA01 ,  2G043DA05 ,  2G043DA08 ,  2G043EA13 ,  2G043EA15 ,  2G043GA07 ,  2G043GB07 ,  2G043GB19 ,  2G043HA03 ,  2G043HA05 ,  2G043HA07 ,  2G043HA15 ,  2G043JA01 ,  2G043JA02 ,  2G043JA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06 ,  2G045AA34 ,  2G045AA35 ,  2G045DA12 ,  2G045DA13 ,  2G045DA14 ,  2G045DA36 ,  2G045FA11 ,  2G045GC11 ,  2G045JA01 ,  4B029AA07 ,  4B029AA21 ,  4B029AA23 ,  4B029BB01 ,  4B029BB15 ,  4B029BB20 ,  4B029CC01 ,  4B029CC02 ,  4B029CC03 ,  4B029CC08 ,  4B029FA15 ,  4B063QA20 ,  4B063QQ05 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ52 ,  4B063QQ79 ,  4B063QR32 ,  4B063QR35 ,  4B063QR38 ,  4B063QR55 ,  4B063QR84 ,  4B063QS32 ,  4B063QS34 ,  4B063QS36 ,  4B063QX02

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