波長シフト型形状計測診断装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-323844
公開番号（公開出願番号）：特開平9-140666
出願日： 1995年11月17日
公開日（公表日）： 1997年06月03日
要約：

【要約】【目的】従来X線、核磁気共鳴による情報や、視認情報および表面被覆状態の形状計測からでは得ることが困難な情報、あるいは基本的に生体および生体材料に対しなんら手をくわえずに、生体および生体材料に対し光に対するそれらの特有な静的および動的な共鳴、吸収、反射、透過、不透過などの物理的および生物学的特徴を検出しその波長域を使用することにより表面から深部にいたるまでの光学的性状の検出を可能とすることにより表面から深部の形状計測はもとよりそれらすべての部位の光学的性状の変化をとらえることにより組織診断、治療モニタあるいは修復に対する計測を可能とし診断、治療、修復に大変役立つ。

請求項（抜粋）：

一定の波長の光を被測定物に当て、この被測定物で反射または透過した光をカメラで読取り、前記被測定物の表面形状または内部組織を観察する波長シフト型形状計測診断装置において所定波長の光を前記被測定物に向けて投射する光源と、前記被測定物で反射または前記被測定物を透過した光の強度を検出する光強度検出手段と、前記光源から放出される所定波長の光の波長を所定範囲で連続的または段階的に変化させ、前記光強度検出手段で検出される光強度が、所定の値をとる波長を選択する波長選択手段とを備えることを特徴とする波長シフト型形状計測診断装置。

IPC (3件)：

A61B 1/06 , A61B 1/00 300 , A61B 1/24

FI (3件)：

A61B 1/06 B , A61B 1/00 300 D , A61B 1/24

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