特許
J-GLOBAL ID：200903091753063308
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-206835
公開番号（公開出願番号）：特開平7-043147
出願日： 1993年07月30日
公開日（公表日）： 1995年02月10日
要約：
【要約】【目的】 測距対象物が至近距離においても第2の受光手段にて光強度の弱い受光信号が得られるようにし、複雑な回路構成を付加することなく、ここでの受光信号出力、あるいは、この信号を増幅する増幅手段の飽和を防止する。【構成】 遠距離を測距するのに適した第1の受光手段130(PSD3)と近距離を測距するのに適した第2の受光手段131(PSD4)を有する受光手段を備え、前記第2の受光手段を、投光手段よりの測距対象物での反射光の周辺付近のボケ像のみが入射する位置に配置するようにしている。
請求項（抜粋）：
測距対象物に向けて信号光を投射する投光手段と、該投光手段よりの測距対象物での反射光を受光するための複数の受光手段と、該受光手段よりの信号を増幅する増幅手段と、該増幅手段よりの信号を基に距離情報を算出する算出手段とを備えた測距装置において、前記受光手段は、遠距離を測距するのに適した第1の受光手段と近距離を測距するのに適した第2の受光手段を少なくとも有し、前記第2の受光手段は、前記投光手段よりの測距対象物での反射光の周辺付近のボケ像のみが入射するように配置されたことを特徴とする測距装置。
IPC (2件)：
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