特許
J-GLOBAL ID：200903091765868573
X線診断装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
外川 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-193341
公開番号（公開出願番号）：特開平10-066686
出願日： 1985年06月28日
公開日（公表日）： 1998年03月10日
要約：
【要約】【課題】 高解像の撮像素子で高速なフレームレートの画像を撮影すること。【解決手段】 本発明は、透視モ-ド時には近接する複数画素の情報をアナログ加算して出力し、撮影モ-ド時には画素情報を加算せずに出力する2次元固体検出器を用いたX線診断装置である。
請求項（抜粋）：
X線を被検体に向けて曝射するX線発生手段と、前記X線に応じた電荷を発生する電荷発生手段と、前記電荷発生手段の発生した電荷を蓄積する蓄積手段と、前記蓄積手段に蓄積された電荷を読み出すためのトランジスタと、透視モード時には前記トランジスタを複数行づつ同時にON状態にして前記トランジスタの出力を加算させ、撮影モード時には前記トランジスタを1行づつON状態にする手段と、前記トランジスタを行単位で制御する手段と、前記トランジスタの出力を列単位で出力するスイッチング手段を備えることを特徴とするX線診断装置。
IPC (2件)：
A61B 6/00 300
, G03B 42/02
A61B 6/00 300 S
, G03B 42/02 Z
