特許
J-GLOBAL ID:200903091781816915
機器劣化評価支援装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
三谷 惠
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-111579
公開番号(公開出願番号):特開2003-307469
出願日: 2002年04月15日
公開日(公表日): 2003年10月31日
要約:
【要約】【課題】 プラント機器の劣化評価を評価者の技術レベルに左右されることなく効率的に実施でき、評価結果の保守性に優れた機器劣化評価支援装置を提供することである。【解決手段】 劣化事象抽出部11は、プラント機器の劣化を評価するにあたり、プラント機器を構成する部品データおよび経年劣化データに基づいて劣化事象候補を抽出し、さらに、保全履歴データに基づいて劣化事象候補の中から評価要の劣化事象の抽出を行う。そして、劣化事象評価部17は、劣化事象抽出部11で抽出された劣化事象の評価データを作成して出力し、保全計画策定部19は劣化事象評価部17の評価データおよび指定された作成条件に基づいて保全計画を保全マップとして出力する。
請求項(抜粋):
プラント機器を構成する部品データおよび経年劣化データに基づいて劣化事象候補を抽出し、保全履歴データに基づいて前記劣化事象候補の中から評価要の劣化事象の抽出を行う劣化事象抽出部と、前記劣化事象抽出部で抽出された劣化事象の評価データを出力する劣化事象評価部と、前記劣化事象評価部の評価データおよび指定された作成条件に基づいて保全計画を保全マップとして出力する保全計画策定部とを備えたことを特徴とする機器劣化評価支援装置。
IPC (3件):
G01M 19/00
, G01N 17/00
, G05B 23/02
FI (3件):
G01M 19/00 Z
, G01N 17/00
, G05B 23/02 T
Fターム (16件):
2G024AD33
, 2G024BA12
, 2G024CA30
, 2G024DA30
, 2G024EA01
, 2G024EA02
, 2G024EA09
, 2G024FA06
, 2G050AA01
, 2G050BA10
, 2G050DA03
, 2G050EA01
, 2G050EC01
, 2G050EC05
, 5H223AA01
, 5H223EE05
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