特許
J-GLOBAL ID：200903091784603661
プロ-ブマッピング診断方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢野 敏雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-004905
公開番号（公開出願番号）：特開2000-205932
出願日： 2000年01月13日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：
【要約】【目的】 容器における材料のレベルに関連性の無いファクタに基づく反射を追跡するため、基準信号を周期的ベースで自動的に更新する方法を提供することである。【構成】 容器の中のプローブに沿ってTDR信号を周期的に検出するステップと、ゼロ値を持つ少なくとも1つの潜在的起点反射のために前記TDR信号を走査するステップと、前記少なくとも1つの潜在的起点の反射から起点の反射を選択するステップと、前記起点の反射に起点基準点を設定するステップと、前記起点の基準点に基づいて前記出力結果を計算するステップとを含む。
請求項（抜粋）：
容器の中の材料に関するプロセス変数に対応する有効な出力結果を発生させるために多くの反射パルスを有する時間領域反射測定(TDR)信号を処理するための方法において、前記容器の中のプローブに沿ってTDR信号を周期的に検出するステップと、ゼロ値を持つ少なくとも1つの潜在的起点反射のために前記TDR信号を走査するステップと、前記少なくとも1つの潜在的起点の反射から起点の反射を選択するステップと、前記起点の反射に起点基準点を設定するステップと、前記起点の基準点に基づいて前記出力結果を計算するステップとを含むことを特徴とする、TDR信号を処理するための方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01F 23/28 D
, G01S 7/52 J
