特許

J-GLOBAL ID：200903091787696075

光パルス試験器

発明者： 泉田 史 ,  小山田 弥平 ,  古川 眞一 ,  三川 泉 ,  山本 文彦
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 吉田 精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-124449
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322695
出願日： 1992年05月18日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：

【要約】【目的】 コヒーレント検波方式を用いるOTDRにおいて、OTDR波形上のフェージングノイズによる揺らぎが小さくかつ測定時間の短い光パルス試験器を提供すること。【構成】 複数の光周波数f1( λ1)〜f4( λ4)を発生する光源部20を用い、これら周波数の試験信号光a及びローカル信号光bを発生し、試験信号光aをAOスイッチ3によってパルス化して被試験光ファイバ5に送出する。さらに、被試験光ファイバ5から繰り返し戻ってくる反射光及び後方散乱光とローカル信号光bとを合波し、ビート信号光dを得て各光周波数毎に独立な後方散乱波形を得る。【効果】 フェージングノイズによるOTDR波形上の揺らぎが短時間で低減され、被試験光ファイバの途中の接続箇所や損失の変化による段差が判別でき、高信頼なコヒーレント検波OTDRを実用に供することができる。

請求項（抜粋）：

試験信号光及びローカル信号光を発生する信号光発生手段と、前記試験信号光をパルス化して所定周期ごとに被試験光ファイバに繰り返して送出する光パルス生成手段と、前記被試験光ファイバから繰り返し戻ってくる反射光及び後方散乱光と前記ローカル信号光とを光学的に合波してビート信号光を得る光合波手段と、このビート信号光を受光して電気信号に変換する光電気変換手段と、この電気信号を処理する電気信号処理手段と、この電気信号処理の結果に基づいて前記反射光及び後方散乱光の波形を表示する表示手段とを備えた光パルス試験器において、前記信号光発生手段は所定光周波数間隔の複数の光周波数を同時に発生することを特徴とする光パルス試験器。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭62-052426
  
• 特開平4-072540
  
• 特開平4-132932
  
• 特開平2-252279