特許
J-GLOBAL ID:200903091788390271

傷検出回路および傷補正回路

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小鍜治 明 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-105312
公開番号(公開出願番号):特開平6-319082
出願日: 1993年05月06日
公開日(公表日): 1994年11月15日
要約:
【要約】【目的】 CCD等の固体撮像素子における欠陥画素の傷補正を適切かつ十分に行う。【構成】 画素取込回路10により取り込まれた周辺8画素の信号から境界検出回路31により隣接する周辺画素間の境界を求め、この境界をもとに補間回路32において決定された補間方法を出力することにより傷補正を行う。
請求項(抜粋):
撮像素子における一の画素とこの画素周辺に位置する複数の周辺画素から出力される信号を取り込む画素取込手段と、この画素取込手段により取り込まれた前記複数の周辺画素が出力する信号を前記一の画素が出力する信号と各々比較し相関関係を求める傷判断手段とを備え、この傷判断手段において前記一の画素が前記複数の周辺画素すべてと相関を有しない場合に前記一の画素に傷があると判断することを特徴とする傷検出回路。
引用特許:
審査官引用 (13件)
  • 特開昭61-261974
  • 特開昭61-261974
  • 特開昭63-232579
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