特許

J-GLOBAL ID：200903091799739322

検証項目抽出方法、再利用コア検証方法、検証判断方法、および再利用テストベンチ編集方法

発明者： 奥野 真由美 ,  本原 章 ,  横山 敏之 ,  藤原 睦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 前田 弘 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-278417
公開番号（公開出願番号）：特開2001-101250
出願日： 1999年09月30日
公開日（公表日）： 2001年04月13日
要約：

【要約】【課題】 再利用コアの検証方法を提供する。【解決手段】 LSI10の仕様11に基づいて仕様制約24を抽出する(ST1)。再利用コア20の仕様21、仕様制約24に基づいて検証すべき項目25を抽出する(ST2)。LSI10のテストベンチ12、RTL13に基づいて1チップ検証を行う(ST11)。1チップ検証(ST11)の結果および検証すべき項目25に基づいて機能カバレッジを算出する(ST12)。検証すべき項目25のうち1チップ検証(ST11)において検証していない項目がある場合(NOの場合)、この項目を検証するためのテスト項目をテストベンチ12に追加する(ST13)。再びステップST11に戻り、テスト項目が追加されたテストベンチ12およびRTL13に基づいて1チップ検証を行う。

請求項（抜粋）：

再利用コアの全体の仕様を、当該再利用コアがLSIに用いられる際に必要となる仕様に限定する仕様制約を抽出する処理と、前記再利用コアの全体の仕様を構成する項目のうち、前記LSIのテストベンチおよびRTLに基づく検証において検証すべき項目を、前記仕様制約に基づいて抽出する処理とを備える、検証項目抽出方法。

IPC (2件)：

G06F 17/50 ,  H01L 21/82

FI (3件)：

G06F 15/60 670 Z ,  G06F 15/60 670 G ,  H01L 21/82 T

Fターム (7件)：

5B046AA08 ,  5B046BA09 ,  5B046JA01 ,  5F064DD04 ,  5F064HH10 ,  5F064HH12 ,  5F064HH17