特許

J-GLOBAL ID：200903091832513408

三次元形状を計測する方法および装置並びに三次元形状計測用プログラムを記憶した記憶媒体

発明者： 室田 直哉 ,  武士 正美 ,  中島 毅
出願人/特許権者： スズキ株式会社
代理人 (1件)： 高橋 勇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-372683
公開番号（公開出願番号）：特開2000-193438
出願日： 1998年12月28日
公開日（公表日）： 2000年07月14日
要約：

【要約】【課題】 多重反射によるノイズを除去すること。【解決手段】 照射工程E1での計測光の走査方向と同方向の空間コードの増減の変化を抽出する増減抽出工程E4と、この増減抽出工程E4にて抽出された空間コードの増減が予め定められた増加または減少とは逆向きの変化である減少または増加となった空間コードを特定すると共に当該空間コードの増減が逆向きとなった空間コードを多重反射による空間コードと判定する多重反射判定工程E5とを備えている。さらに、図1に示す例では、多重反射判定工程E5に続いて、当該多重反射判定工程によって多重反射と判定された空間コードを削除する削除工程E6を備えている。多重反射によるノイズを除去した後、空間コード特定工程E4乃至E6にて算出された空間コードと受光素子の位置とに基づいて予め定められた座標系での原点から測定対象物の表面までの距離を各受光素子毎に算出する距離算出工程E7とを備えた。

請求項（抜粋）：

測定対象物を含む空間を分割する空間コードに対応した計測光を照射する照射工程と、この照射工程で照射された計測光の照射角度に対して予め定められた角度をなす受光平面に二次元に配列された各受光素子にて当該計測光を受光する受光工程と、この受光工程にて受光した計測光の順序に基づいて各受光素子に対応する位置ごとに空間コードを算出する空間コード処理工程と、この空間コード処理工程にて算出された空間コードと前記受光素子の位置とに基づいて予め定められた座標系での原点から前記測定対象物の表面までの距離を各受光素子毎に算出する距離算出工程とを備えた三次元形状計測方法において、前記空間コード処理工程が、前記照射工程での前記計測光の走査方向と同方向の空間コードの増減の変化を抽出する増減抽出工程と、この増減抽出工程にて抽出された空間コードの増減が予め定められた増加または減少とは逆向きの変化である減少または増加となった空間コードを特定すると共に当該空間コードの増減が逆向きとなった空間コードを多重反射による空間コードと判定する多重反射判定工程とを備えたことを特徴とする三次元形状計測方法。

IPC (2件)：

G01B 11/24 ,  G06T 7/00

FI (2件)：

G01B 11/24 K ,  G06F 15/62 415

Fターム (29件)：

2F065AA04 ,  2F065AA53 ,  2F065DD04 ,  2F065DD12 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065FF61 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH07 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL13 ,  2F065LL62 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057CA13 ,  5B057CB13 ,  5B057CC01 ,  5B057DA20 ,  5B057DB03 ,  5B057DC09 ,  5B057DC30