特許
J-GLOBAL ID：200903091889006030
状態診断方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石川 泰男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-101388
公開番号（公開出願番号）：特開平7-311759
出願日： 1994年05月16日
公開日（公表日）： 1995年11月28日
要約：
【要約】【目的】 診断対象者個人毎の状態に適合した適切な診断結果の提供が可能な状態診断装置を提供する。【構成】 外部から入力される状態データを、予め設定された診断要素毎、かつ、状態データの入力毎に集計して集計結果を得る集計過程(ステップS14)と、集計結果のうち、今回入力された状態データに対応する今回の集計結果と、過去に入力された状態データに対応する過去の集計結果とを診断要素毎に比較する比較過程と、比較結果に基づき状態診断を行う状態診断過程(ステップS20)と、を含んで構成する。また、集計結果のうち、過去の集計結果同志を相互に診断要素毎に比較する比較過程と、比較結果に基づき状態診断を行う状態診断過程と、を含んで構成する。
請求項（抜粋）：
外部から入力される状態データを、予め設定された診断要素毎、かつ、前記状態データの入力毎に集計して集計結果を得る集計過程と、前記集計結果のうち、今回入力された状態データに対応する今回の集計結果と、過去に入力された状態データに対応する過去の集計結果とを前記診断要素毎に比較する比較過程と、前記比較過程の結果に基づき状態診断を行う状態診断過程と、を含むことを特徴とする状態診断方法。
IPC (2件)：
G06F 17/00
, G06F 9/44 550
