特許
J-GLOBAL ID:200903091945823233

製造職場の不良の起こし易さ評価方法及びその装置、製品の品質評価方法及びその装置並びに記録媒体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小川 勝男 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-273368
公開番号(公開出願番号):特開2001-100838
出願日: 1999年09月27日
公開日(公表日): 2001年04月13日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】製造職場において一連の製造作業によって製造される製品の作業不良率等の品質を評価推定できる方法を提供する。【解決手段】職場評価用データベースを予め作成して記憶準備しておく職場データベース準備過程と、該準備された職場評価用データベースから、入力された製造職場における各職場条件不良影響項目についての職場水準レベルに対応する不良発生度指標を抽出し、これを所望の複数の職場条件不良影響項目に亘って総計して製造職場における基準製造作業に対する不良の起こし易さを評価推定して職場指標として製品評価用データベースに格納する職場評価過程と、製造職場における職場指標を用いて、複数の製造作業によって製造される製品としての作業不良率を示す品質を評価推定する製品評価過程とを有する。
請求項(抜粋):
予め設定された複数の職場条件不良影響項目と該各職場条件不良影響項目について少なくとも基準職場水準レベルにおける基準製造作業に対する不良発生度指標との対応関係を示す職場評価用データベースを予め作成して記憶準備しておく職場データベース準備過程と、該職場データベース準備過程で準備された職場評価用データベースから、入力された評価対象の製造職場における各職場条件不良影響項目についての職場水準レベルに対応する前記不良発生度指標を抽出し、この抽出された不良発生度指標を所望の複数の職場条件不良影響項目に亘って総計して評価対象の製造職場における基準製造作業に対する不良発生度を示す指標を算出することにより評価対象の製造職場における不良の起こし易さを評価推定する職場評価過程とを有することを特徴とする製造職場の不良の起こし易さ評価方法。
IPC (3件):
G05B 23/02 302 ,  G05B 19/418 ,  G06F 17/60
FI (3件):
G05B 23/02 302 Y ,  G05B 19/418 Z ,  G06F 15/21 R
Fターム (18件):
5B049BB07 ,  5B049CC21 ,  5B049CC23 ,  5B049DD01 ,  5B049EE01 ,  5B049EE05 ,  5B049EE12 ,  5B049FF03 ,  5B049FF04 ,  5B049GG04 ,  5B049GG07 ,  5H223AA05 ,  5H223CC08 ,  5H223DD03 ,  5H223EE30 ,  9A001JJ01 ,  9A001JJ45 ,  9A001KK54

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