特許
J-GLOBAL ID：200903092033724575
パラメータ最適化装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-197653
公開番号（公開出願番号）：特開2003-016114
出願日： 2001年06月29日
公開日（公表日）： 2003年01月17日
要約：
【要約】【課題】パラメータ最適化装置での探索精度の向上。【解決手段】構造物の変形や応力などの応答特性を表すパラメータが所定の範囲になるように構造物の形状、材質等の設計パラメータを調整する装置であって、設計パラメータと応答特性パラメータの複数の組合せを作成し、それぞれの組合せに対応する複数の応答曲面を生成し、所定の応答特性を満たす設計パラメータを探索する際にその複数の応答曲面を同時に比較し使用する応答曲面を切替えて探索することを特徴とするパラメータ最適化装置。
請求項（抜粋）：
構造物の変形や応力などの応答特性を表すパラメータが所定の範囲になるように構造物の形状、材質等の設計パラメータを調整する装置であって、構造物の形状、材質等の設計パラメータと構造物の変形や応力などの応答特性を表すパラメータを記憶する手段とその記憶されたパラメータの値を使って、設計パラメータと応答特性パラメータとの関係を表す応答曲面を計算し、その応答曲面を表すパラメータを記憶する手段を有し、その応答曲面を用いて設計パラメータを最適化する装置において、設計パラメータと応答特性パラメータの複数の組合せを作成し、それぞれの組合せに対応する複数の応答曲面を生成し、所定の応答特性を満たす設計パラメータを探索する際にその複数の応答曲面を同時に比較しながら探索することを特徴とするパラメータ最適化装置。
Fターム (2件)：
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