特許

J-GLOBAL ID：200903092063899191

記録媒体用ガラス基板の製造方法および記録媒体用ガラス基板

発明者： 岩下 正志 ,  石橋 一晃
出願人/特許権者： 旭テクノグラス株式会社
代理人 (1件)： 須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-072806
公開番号（公開出願番号）：特開2000-264681
出願日： 1999年03月17日
公開日（公表日）： 2000年09月26日
要約：

【要約】【課題】 記録媒体用ガラス基板の製造においては、イオン交換処理により強化を行った後に平面度測定による検査を必要とし、この測定検査工程は工程時間を多く要するとともに、ガラス基板を汚したり傷つけたりするなど問題点が多く、この点を解決して生産性を向上させるとともに、記録媒体用ガラス基板の信頼性を高めることが望まれていた。【解決手段】 円盤状に成形されたガラス基板表面を研磨し、研磨後のガラス基板面の平面度を測定して所定の平面度範囲を満たすガラス基板を選択し、ガラス基板を低温型イオン交換処理した後、イオン交換処理によるガラス基板径の伸び率を測定し、所定の伸び率範囲のものを選択する。

請求項（抜粋）：

ガラス素材を円盤状に成形しガラス基板表面を研磨する工程と、研磨後のガラス基板面の平面度を測定して所定の平面度範囲のガラス基板を選択する工程と、選択されたガラス基板をイオン交換処理する工程と、イオン交換後のガラス基板のイオン交換前の規定寸法に対する伸び率を測定し、予め平面度と伸び率および強度の関係から定めた所定の伸び率範囲のものを選択する工程とを有すること特徴とする記録媒体用ガラス基板の製造方法。

IPC (3件)：

C03C 21/00 101 ,  G11B 5/73 ,  G11B 5/84

FI (3件)：

C03C 21/00 101 ,  G11B 5/704 ,  G11B 5/84 Z

Fターム (17件)：

4G059AA08 ,  4G059AC18 ,  4G059HB13 ,  4G059HB14 ,  4G059HB23 ,  5D006CB04 ,  5D006CB07 ,  5D006DA03 ,  5D006FA00 ,  5D112AA02 ,  5D112AA24 ,  5D112BA03 ,  5D112BA09 ,  5D112GA02 ,  5D112GA28 ,  5D112JJ03 ,  5D112JJ04