特許

J-GLOBAL ID：200903092067163530

同時バックグランド補正法

発明者： 北川 知子
出願人/特許権者： 住友金属鉱山株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-218842
公開番号（公開出願番号）：特開平7-072079
出願日： 1993年09月02日
公開日（公表日）： 1995年03月17日
要約：

【要約】【目的】 ICP発光分光分析装置によって定性および定量する際に、目的元素の発光強度の測定と同時にバックグランドの発光強度の測定を行い、バックグランドの変動による補正の誤差を解消し、正確な分析値を得る方法を提供すること。【構成】 ICP発光分光分析装置で、試料溶液の中の目的元素の発光強度とバックグランドの発光強度とを2台の分光器を用いて同時に測定して目的元素の測定値を補正する。

請求項（抜粋）：

高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置により試料溶液の中の微量元素を定量分析する際に、試料溶液の中の目的元素の発光強度とバックグランドの発光強度とを2台の分光器を用いて同時に測定して目的元素の測定値を補正することを特徴とする同時バックグランド補正法。