特許

J-GLOBAL ID：200903092107027952

被測定コードの読取りシステム

発明者： 横山 浩樹 ,  門 宅見 ,  日比谷 一親
出願人/特許権者： スタンレー電気株式会社
代理人 (1件)： 丹羽 宏之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-014185
公開番号（公開出願番号）：特開平8-212281
出願日： 1995年01月31日
公開日（公表日）： 1996年08月20日
要約：

【要約】【目的】 バーコードやマトリクスコードを読取る読取りシステムにおいて、コード表面に汚れや付着物があっても正確な読取りができるようにする。【構成】 特殊物品管理用コード(被測定コード)5を磁性体のピン4により形成する。また、このコードを読取る読取り装置7に、複数のホール素子(磁気センサ)1と、これに対向した位置に配置された磁石3と、ホール素子1の出力変化を測定して上記ピン4の有無を認識するデータ処理装置6を備える。そして、この読取り装置7により特殊物品管理用コード5を読取り、その認識データを外部に出力する。

請求項（抜粋）：

被測定コードを磁性体材料により形成し、所定のパターンに配置された複数の磁気センサと、この磁気センサと対向して設けられた磁石と、前記磁気センサの出力から前記被測定コード上の磁性体材料の有無を測定するデータ処理回路とを有した読取り装置を備え、この読取り装置により前記測定コードを読取ることを特徴とする被測定コードの読取りシステム。

IPC (3件)：

G06K 7/08 ,  G06K 7/00 ,  G11B 5/09 301