特許

J-GLOBAL ID：200903092124065108

IC試験装置

発明者： 加藤 良二 ,  谷 充晃
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-089898
公開番号（公開出願番号）：特開平6-300819
出願日： 1993年04月16日
公開日（公表日）： 1994年10月28日
要約：

【要約】【目的】 被試験ICの品種変更に必要なテストヘッドの接触部の交換を簡単に行なうことができるIC試験装置を提供する。【構成】 テスタ本体にケーブル束によって電気的に接続されたテストヘッドと、このテストヘッドの上部に位置し、このテストヘッドの上面に設けた接触部に被試験ICを供給し、試験を終了したICを接触部から排出させる作業を行なうハンドラとによって構成されるIC試験装置において、テストヘッドをケーブル束が存在しない方向に移動させ、この移動によってテストヘッドをハンドラの前部又は側部に露出させる構造としたIC試験装置。

請求項（抜粋）：

被試験ICの動作を試験するテスタ本体と、このテスタ本体にケーブル束によって電気的に接続されたテストヘッドと、このテストヘッドの上部に位置し、テストヘッドと機械的に連結して被試験ICを上記テストヘッドの上面に設けた接触部に供給するハンドラと、によって構成されたIC試験装置において、上記テストヘッドを上記ケーブル束の存在しない方向に移動させ上記テストヘッドを上記ハンドラの下部から外部に露出させる案内駆動装置と、この案内駆動装置によって上記テストヘッドが移動するのと同期して、上記ケーブル束を繰出すケーブル繰出装置と、を設けたことを特徴とするIC試験装置。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/26

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平2-073170
  
• 特開平2-300677
  
• 特開平4-251951