特許

J-GLOBAL ID：200903092153795344

質量分析用試料調製プレート

発明者： フインチ,ジエフリー・ダブリユ ,  ゲブラー,ジヨン・シー ,  バスケス,サンテイアゴ
出願人/特許権者： ウオーターズ・インベストメンツ・リミテツド
代理人 (5件)： 川口 義雄 ,  小野 誠 ,  金山 賢教 ,  大崎 勝真 ,  坪倉 道明
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-503458
公開番号（公開出願番号）：特表2006-517671
出願日： 2004年02月10日
公開日（公表日）： 2006年07月27日
要約：

モノリシック基板20と複数のウェル構造12をもち、ウェルが親水性中央領域18と疎水性周囲領域16を備える質量分析計用試料調製プレート。

請求項（抜粋）：

プラットホームを備え、前記プラットホームは基板と1つまたは複数のウェルをもち、各ウェルは親水性中央領域と周囲の疎水性領域をもつ質量分析用試料表面。

IPC (2件)：

G01N 27/62 ,  G01N 27/64

FI (3件)：

G01N27/62 V ,  G01N27/62 F ,  G01N27/64 B

Fターム (6件)：

2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041EA01 ,  2G041JA06 ,  2G041JA08 ,  2G041JA10