特許
J-GLOBAL ID：200903092156690969
発光分光分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-179352
公開番号（公開出願番号）：特開平10-019783
出願日： 1996年07月09日
公開日（公表日）： 1998年01月23日
要約：
【要約】【課題】 ICP(誘導結合プラズマ)光源部で発光した光を分光部へ導いて発光分光分析を行うICP発光分光分析装置において、ICP光源部を構成するトーチアッセンブリ部のメンテナンスを容易に行う。【解決手段】 トーチ2を保持したトーチホルダ34をスライドレール42、44によって水平方向にスライドする機構40を設ける。そして、トーチアッセンブリ部のメンテナンス等を行う際には、トーチホルダ34をスライドレール42、44によって装置匣体100Aの収容部100Bの外にスライドさせることにより、トーチアッセンブリ部を装置匣体100Aの外に引き出し、装置匣体100Aの外部でメンテナンス等を行う。この後、スライドレール42、44によってトーチホルダ34を元の位置にスライドさせて戻すことにより、トーチアッセンブリ部が適正な測定位置に復帰できる。
請求項（抜粋）：
光源部にて発光した光を分光部へ導いて発光分光分析を行う発光分光分析装置において、前記光源部を構成するトーチアッセンブリ部を、装置筐体内に設けた収容部に配置するとともに、この収容部の開口部側に引き出す引き出し機構を設けた、ことを特徴とする発光分光分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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