特許
J-GLOBAL ID：200903092307163630
発光分光分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-300265
公開番号（公開出願番号）：特開平10-142156
出願日： 1996年11月12日
公開日（公表日）： 1998年05月29日
要約：
【要約】【課題】 発光炎の中心軸部分の光を分光器内部に多く取り入れて、高感度でかつ高精度の分光分析を可能にする。【解決手段】 発光部1に対して、その発光炎Fの中心軸Fa部分の発光を集光するよう、中心軸Faの延長線上に集光レンズ3等からなる集光光学系を配置し、その集光位置には、光ファイバ6のバンドルからなる導光手段4の受光部7を配置する。この受光部7では、スポット的に受光するよう、光ファイバ端面6aが略円形に配列され、他端部である投光部8では、受光した光をスリット状に絞るよう、光ファイバ端面6bがスリット状に配列されている。
請求項（抜粋）：
発光部で生成される発光炎を光源とし、その光をスリット状に絞って分光器内に入射させるようにした発光分光分析装置であって、発光部で発生する光を集光する集光光学系と、光ファイバのバンドルからなり前記集光光学系の集光位置から入口スリット配置位置にかけて設けられた導光手段とを備えており、かつ、前記導光手段の光ファイバの端面は受光側では略円形に、投光側ではスリット状に配列されていることを特徴とする発光分光分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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