特許
J-GLOBAL ID:200903092322953884

製造ライン評価支援方法及びその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-079403
公開番号(公開出願番号):特開2003-280730
出願日: 2002年03月20日
公開日(公表日): 2003年10月02日
要約:
【要約】【課題】製造ラインの問題点の抽出を自動的に行うことができ、同時に抽出した問題点に対する改善対策を明示可能な製造ライン評価支援装置を得る。【解決手段】シミュレータ上に構成した製造ラインの各要素のシミュレーション結果データに対して、稼働率、生産数、評価指標に沿った形式に整理するデータ整理部2と、前記2で整理されたデータを記憶する結果データ記憶部14と、前記製造ライン種別毎の結果データに対する評価項目と評価基準値及び評価フローを、予め記憶している評価ルールデータ記憶部5と、前記5で記憶された評価ルールを用いてシミュレーション結果データの評価を行い、ライン構成要素に関する問題点を抽出する問題点解析部4と、前記4で抽出された問題点と該当構成要素を出力する表示装置10を具備したもの。
請求項(抜粋):
仮想的に設計したシミュレータ上に構成した製造ラインの各要素のシミュレーション結果データを収集し、評価支援装置側に伝達するシミュレーション結果データ入力工程と、前記収集されたシミュレーション結果データを取り込み、稼働率、生産数、評価指標に沿った形式に整理するデータ整理工程と、予め記憶されている、製造ライン種別毎の結果データに対する評価項目と評価基準値及び評価フローから成る評価ルールを用いて、シミュレーション結果データの評価を行い、製造ライン構成要素に関する問題点を抽出する問題点解析工程と、を含むことを特徴する製造ライン評価支援方法。
IPC (5件):
G05B 23/02 ,  G05B 19/418 ,  G06F 17/50 636 ,  G06F 17/60 106 ,  G06F 19/00 110
FI (5件):
G05B 23/02 T ,  G05B 19/418 Z ,  G06F 17/50 636 D ,  G06F 17/60 106 ,  G06F 19/00 110
Fターム (14件):
3C100AA43 ,  3C100BB02 ,  3C100BB03 ,  3C100BB13 ,  3C100BB17 ,  3C100BB31 ,  5B046AA00 ,  5B046JA04 ,  5B046KA05 ,  5H223AA05 ,  5H223CC08 ,  5H223DD03 ,  5H223EE06 ,  5H223FF05

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