光ファイバ特性測定装置

発明者：
出願人/特許権者： ,
代理人 (6件)：志賀正武 , 高橋詔男 , 渡邊隆 , 鈴木三義 , 西和哉 , 村山靖彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-211438
公開番号（公開出願番号）：特開2009-047455
出願日： 2007年08月14日
公開日（公表日）： 2009年03月05日
要約：

【課題】光ファイバの一端のみから測定光を入射させる場合においても高空間分解能が得られ、且つ短時間で光ファイバの特性を測定することができる光ファイバ特性測定装置を提供する。【解決手段】光ファイバ特性測定装置1は、光パルス発生回路13、光位相変調器14、バランス受光回路19、及び信号処理部25等を備える。光パルス発生回路13は、パルス間隔が被測定光ファイバ18中の音響波の寿命以下にされた複数のパルス光L31,L32からなるパルス列L3を生成する。光位相変調器14は、パルス列L3をなす各々のパルス光L31,L32に対して、バーカー符号等の符号変調を行って測定用パルス光L41,L42を生成する。バランス受光回路19は被測定光ファイバ18からの戻り光L5を受光して受光信号S1を得る。信号処理部25は受光信号S1に対して所定の相関処理を行って被測定光ファイバ18の特性を求める。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光ファイバの一端から測定用パルス光を入射させ、当該光ファイバの一端から射出される後方ブリルアン散乱光を受光して得られる受光信号に基づいて前記光ファイバの特性を測定する光ファイバ特性測定装置において、パルス間隔が前記光ファイバ中の音響波の寿命以下にされた第1パルス光と第2パルス光からなるパルス列をコヒーレント光から生成するパルス光生成部と、前記パルス光生成部で生成されたパルス列をなす各々のパルス光に対して所定の符号変調を行って前記光ファイバに入射させる測定用パルス光を生成する符号変調部と、前記光ファイバの一端から射出される後方ブリルアン散乱光と前記コヒーレント光との合波光を受光して受光信号を得る受光部と、前記受光部からの受光信号と、前記パルス光生成部で生成されるパルス列をなすパルス光のパルス間隔と前記符号変調部で行われる符号変調の種類とに応じた符号列との相関処理を行い、当該相関処理の処理結果に基づいて前記光ファイバの特性を求める信号処理部とを備えることを特徴とする光ファイバ特性測定装置。

IPC (2件)：

G01M 11/00 , G01D 5/353

FI (3件)：

G01M11/00 G , G01D5/26 D , G01M11/00 R

Fターム (12件)：

2F103BA37 , 2F103BA43 , 2F103CA07 , 2F103EB02 , 2F103EB18 , 2F103EC09 , 2F103ED27 , 2F103ED36 , 2F103ED37 , 2F103FA16 , 2G086DD04 , 2G086DD05

引用特許：

出願人引用 (9件)

特許第2575794号公報
特許第3481494号公報
特許第2589345号公報

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