特許

J-GLOBAL ID：200903092365183586

三次元画像取得装置

発明者： 林 徹 ,  石坂 昭三
出願人/特許権者： 株式会社林創研
代理人 (1件)： 中野 佳直
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-110769
公開番号（公開出願番号）：特開2009-264752
出願日： 2008年04月21日
公開日（公表日）： 2009年11月12日
要約：

【課題】透明に近い細胞などの生体材料を非染色状態で試料とし、コントラストの低い試料を可視化する顕微鏡などの観察装置に最適な三次元画像取得装置およびその方法とこれを利用した加工装置の提供。【解決手段】試料空間内の計測点に集光する光束を照射し、透過光量を計測する。透過光信号と参照信号から微弱な光吸収量を測定する。三次元走査しながら光吸収量を立体画素とする三次元マップを得る。この三次元マップに、計測点付近の光強度分布像をコンボリューション・カーネルとするデコンボリューション処理を行ない、非染色状態で透明に近い試料の三次元画像を得る。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

透明に近い生体材料を試料とし、試料透過光の減衰量から立体像を得る三次元画像取得装置であって、 光束を射出する光源と、 前記光束を試料中の計測点に集光し、前記計測点付近に局所的光強度三次元分布を生成する手段と、 前記試料と前記計測点とを相対的に三次元走査する手段と、 前記試料の光透過量から前記光束の光減衰量を計測する手段と、 走査する計測点の位置座標に対応した前記光減衰量の三次元マップを作成する手段と、 前記計測点付近の局所的光強度三次元分布像から得られたコンボリューション・カーネルを用いたデコンボリューション、またはコンボリューション・カーネルを初期設定しないブラインドデコンボリューションのいずれかによって、前記三次元マップから試料の立体像を作成する手段と、 からなることを特徴とする三次元画像取得装置。

IPC (7件)：

G01B 11/24 ,  G02B 21/00 ,  H04N 13/02 ,  G02B 21/36 ,  G06T 1/00 ,  G06T 5/20 ,  G01N 21/17

FI (8件)：

G01B11/24 Z ,  G02B21/00 ,  H04N13/02 ,  G02B21/36 ,  G06T1/00 295 ,  G06T1/00 315 ,  G06T5/20 B ,  G01N21/17 A

Fターム (75件)：

2F065AA52 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB22 ,  2F065CC16 ,  2F065FF46 ,  2F065GG02 ,  2F065GG03 ,  2F065HH04 ,  2F065HH15 ,  2F065LL12 ,  2F065LL13 ,  2F065LL15 ,  2F065LL46 ,  2F065LL62 ,  2F065MM03 ,  2F065MM16 ,  2F065NN01 ,  2F065PP12 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ14 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ32 ,  2F065SS02 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG06 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2H052AA07 ,  2H052AC15 ,  2H052AC34 ,  2H052AD18 ,  2H052AD20 ,  2H052AF03 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25 ,  5B057AA10 ,  5B057BA19 ,  5B057BA21 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CE03 ,  5B057CE06 ,  5B057CH09 ,  5B057DA16 ,  5B057DA17 ,  5B057DB03 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5C061AA21 ,  5C061AB01 ,  5C061AB08 ,  5C061AB11 ,  5C061AB12 ,  5C061AB14 ,  5C061AB16

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 共焦点レーザー走査顕微鏡及びその光学的断層像表示方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-354207   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 透過型レーザー顕微鏡による特定物質撮像方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-333136   出願人：小池精機株式会社
• 透光率測定装置および方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-115144   出願人：安藤電気株式会社
• 走査型画像入力装置及び走査型プローブ顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-110750   出願人：オリンパス光学工業株式会社

審査官引用 (5件)

• 蛍光顕微鏡、蛍光顕微鏡装置を使用した表示方法、蛍光顕微鏡画像表示プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記憶した機器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-152544   出願人：株式会社キーエンス
• 拡大観察装置、拡大観察装置の操作方法、拡大観察装置操作プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-207253   出願人：株式会社キーエンス
• 走査型レーザ顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-232011   出願人：オリンパス株式会社
• 光トラッププローブ近接場光顕微鏡装置及び近接場光検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-421773   出願人：株式会社リコー
• 光エコー顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-098644   出願人：株式会社ニコン

引用文献：

審査官引用 (2件)

• Blind deconvolution of 3D transmitted light brightfield micrographs
• Hyugens Essential カタログ