特許
J-GLOBAL ID：200903092366763713
ランダムパルス発生装置の調整機構
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
八嶋 敬市
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-340405
公開番号（公開出願番号）：特開平7-162276
出願日： 1993年12月09日
公開日（公表日）： 1995年06月23日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 ほぼ完全にランダムな当たり確率を発生するランダムパルス発生装置計数値を調整する機構を提供する。【構成】 放射性物質が放射するα、β、γ線を所定のエネルギーレベルを保有する粒子として捕え、放射される粒子の個数が、所定時間区間でk個である確率Pkは、ポアソンの分布式で表示される点と、放射線計数回路で検出した粒子の計数値と、予め設定した一定の確率を与える基準値とを比較し、これらが一致した時当たりパルスを発生させるランダムパルス発生装置において、計数装置の回路において計数時間と基準値を目標確率に合わせて固定し、計数回路に保持された計測個数が、目標確率に対応する基準値になるように、調整機構(ネジ6)により放射性物質(線源のフイルム8)と半導体検出素子Dの間の距離Rを調整して、被爆立体角を変化し、半導体検出器が受ける放射粒子の絶対数を変化させて、目標の当たり確率を得るようにした。
請求項（抜粋）：
放射性物質が放射するα、β、γ線について、これら各放射線を所定のエネルギーレベルを保有する粒子として捕え、これらの粒子の放射分布が指数関数の分布に従う点と、この指数関数において、放射される前記粒子の個数が,所定時間区間でk個である確率Pkは、ポアソンの分布式で表示される点と、前記粒子の個数kが、一定の確率に従ってランダムに放射されることに着目し、放射線検出回路で検出した粒子の計数値と、予め設定した一定の確率を与える基準値とを比較し、これらが一致した時当たりパルスを発生させるランダムパルス発生装置において、微弱な放射性物質と、放射性物質に対面して配置され所定の被爆立体角を占有するとともに、前記粒子をそのエネルギーレベルに対応した強度の電気信号に変換する半導体検出素子と、この電気信号から時定数信号を発生させて増幅する増幅回路と、この時定数信号が前記粒子に対応した強度範囲のエネルギーレベルであるものを弁別する波高弁別器と、前記弁別された信号を前記粒子の個数として計数し保持する計数回路と、この計数回路に対して計数動作を継続させる計数時間をプログラミングにより変更可能に設定する設定回路と、目標の確率を与える基準値をプログラミングにより変更可能に設定するメモリと、前記計数時間内に前記計数回路に保持された計数値と前記基準値とを比較し一致したらパルスを出力する比較回路と、前記放射性物質と半導体検出素子の間の距離を調整し前記被爆立体角を変化させる調整機構とからなり、前記計数時間と前記基準値を目標確率に合わせて固定し、前記計数回路に保持された計測個数が、目標確率に対応する前記基準値になるように、前記調整機構により放射性物質と半導体検出素子の間の距離を調整して、前記被爆立体角を変化し、半導体検出器が受ける放射粒子の絶対数を変化させて、目標の当たり確率を得るようにしたことを特徴とするランダムパルス発生装置の調整機構。
IPC (2件)：
H03K 3/84
, A63F 7/02 317
