特許
J-GLOBAL ID：200903092444469541
粒子加工装置用制御装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
江原 省吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-087443
公開番号（公開出願番号）：特開平5-285363
出願日： 1992年04月09日
公開日（公表日）： 1993年11月02日
要約：
【要約】【目的】 粒子加工装置による粒子加工操作時に於いて、粒子の状態をリアルタイムで検出し、加工操作を行うことを目的とする。【構成】 造粒操作等の粒子加工時、処理容器内の粒子の状態を光学センサによって撮像し、その時の画像データを元に粒子加工操作を制御することにより、粒子の現在の状態をリアルタイムで確認しながら粒子加工操作を行うものである。
請求項（抜粋）：
粒子加工装置の処理容器側壁部に形成した内部監視部となるガラス窓と、ガラス窓の外方側に配置した、処理容器内部を撮像するための光学センサと、光学センサからの画像信号をデジタル処理するための画像プロッセサと、画像プロセッサからのデータを元に画像解析を行い、粒子加工操作に必要な、平均粒子径、標準偏差、反射率等の予め設定された項目を算出し、この演算結果と予め入力された各項目に対する規定値とを比較し、この時の比較結果に対応した制御信号を出力するコンピュータと、上記コンピュータからの制御信号に基づいて、粒子加工装置による粒子加工操作を制御する操作条件調整回路とからなることを特徴とする粒子加工装置用制御装置。
IPC (3件)：
B01J 2/16
, B01J 2/00
, B01J 2/28
