特許
J-GLOBAL ID：200903092479278471
半田フィレット部の高さ測定方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-333390
公開番号（公開出願番号）：特開平7-190736
出願日： 1993年12月27日
公開日（公表日）： 1995年07月28日
要約：
【要約】【目的】 プリント基板上に半田付けされて形成された電気部品の半田フィレット部の高さを、直線スリットレーザー光を用い非接触により数値化することを目的とする。【構成】 半田フィレット部2を観察する観察用カメラ12と、半田フィレット部2の被測定箇所に直線スリットレーザー光3を照射する直線スリットレーザ-光発振器13とを具備し、直線スリットレーザー発振器13から発射された直線レーザー光3が半田フィレット部に描く曲線の、スリット形状の幅を計測することで三角測量方式によりフィレット高さとして高精度での数値化が得られる。
請求項（抜粋）：
半田付けされた電気部品を備えたプリント基板の半田接合面に直線スリットレーザー光を照射し、この照射された直線スリットレーザー光が前記半田接合面に描く半田フィレット部における曲線の頂点と前記プリント基板上における直線との間の距離を計測することで三角測量方式により半田フィレット部の高さを算出することを特徴とする半田フィレット部の高さ測定方法。
IPC (2件)：
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