特許

J-GLOBAL ID：200903092491000560

非線形光学定数測定法

発明者： 加藤 美登里 ,  木口 雅史 ,  久米川 奈巳 ,  谷口 彬雄 ,  窪田 重雄
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-191894
公開番号（公開出願番号）：特開平6-034530
出願日： 1992年07月20日
公開日（公表日）： 1994年02月08日
要約：

【要約】【目的】 粉末試料を用いても結果が平均粒径のコヒーレンス長に対する相対的大きさや、バルクでの位相整合の可否によらない簡便な評価法を提供すること。【構成】 基本波をプリズムにより全反射せしめ、試料をプリズムに一定圧力以上の力で押しつけ、全反射によるエバネッセント波を用いて、高次高調波を発生せしめ、その発生効率を測定することにより非線形光学定数を評価する。

請求項（抜粋）：

50kg/cm2以上のほぼ一定の圧力で、試料を全反射界面に押さえつけ、全反射によるエバネッセント波を基本波とし、試料から発生する高次高調波を、屈折率の高い媒体を介して観測することを特徴とする非線形光学定数評価法。

IPC (4件)：

G01N 21/27 ,  G01M 11/00 ,  G01N 21/63 ,  G02F 1/35