特許

J-GLOBAL ID：200903092496002374

蛍光X線硫黄分析方法

発明者： 吉良 昭道 ,  細川 好則 ,  岡田 義明 ,  水田 雅夫
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-167541
公開番号（公開出願番号）：特開平7-005127
出願日： 1993年06月14日
公開日（公表日）： 1995年01月10日
要約：

【要約】【目的】 標準試料として長期にわたって品質が安定したものを用いることにより、精度の高い硫黄濃度測定を行うことができる蛍光X線硫黄分析方法を提供すること。【構成】 試料に対して一次X線2を照射したときに試料から発せられる蛍光X線と散乱X線との比と、標準試料を用いて得られる検量線とを用いて試料中の硫黄濃度を得るようにした蛍光X線硫黄分析方法において、モリブデンよりなる模擬試料本体11とX線吸収体12とからなる模擬試料10を前記標準試料の代わりに用いるようにした。

請求項（抜粋）：

試料に対して一次X線を照射したときに試料から発せられる蛍光X線と散乱X線との比と、標準試料を用いて得られる検量線とを用いて試料中の硫黄濃度を得るようにした蛍光X線硫黄分析方法において、モリブデンよりなる模擬試料本体とX線吸収体とからなる模擬試料を前記標準試料の代わりに用いるようにしたことを特徴とする蛍光X線硫黄分析方法。