特許
J-GLOBAL ID：200903092515247367
帯状体エッジ部の欠陥検出装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
小川 順三 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-118562
公開番号（公開出願番号）：特開平9-304296
出願日： 1996年05月14日
公開日（公表日）： 1997年11月28日
要約：
【要約】【課題】 帯状体のエッジ部の割れや、穴空きの欠陥の形状を実形状に則して検出し得る欠陥検出装置を提供する。【解決手段】 走行する帯状体11のエッジ部を介して対向して、投光手段12および受光手段13を配置し、受光手段13に設けた帯状体11の走行方向とほぼ直交する方向に配列した複数の受光素子を走査して得られる出力に基づいて、その出力が走査開始時の第1の状態から最初に第2の状態になるまでの走査開始位置からの第1の長さデータA、走査開始時の第1の状態から最初の第2の状態を経て再び第1の状態になるまでの走査開始位置からの第2の長さデータB、および第1の状態にある全長さを表す第3の長さデータZを演算手段14で演算し、それらの長さデータに基づいて、帯状体11のエッジ部の欠陥を検出する。
請求項（抜粋）：
走行する帯状体のエッジ部の欠陥を検出する欠陥検出装置において、前記帯状体のエッジ部に光を投射する投光手段と、この投光手段と前記帯状体のエッジ部を挟んで対向して配置され、前記帯状体の走行方向とほぼ直交する方向に配列した複数の受光素子を有する受光手段と、この受光手段を走査して得られる出力に基づいて、その出力が走査開始時の第1の状態から最初に第2の状態になるまでの走査開始位置からの第1の長さデータ、前記走査開始時の第1の状態から前記最初の第2の状態を経て再び第1の状態になるまでの走査開始位置からの第2の長さデータ、および第1の状態にある全長さを表す第3の長さデータを演算する演算手段とを有し、この演算手段で演算した前記第1,第2および第3の長さデータに基づいて、前記帯状体のエッジ部の欠陥を検出するよう構成したことを特徴とする帯状体エッジ部の欠陥検出装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N 21/89 B
, G01N 21/89 Q
, G01B 11/30 E
