特許

J-GLOBAL ID：200903092518324036

自動選別装置

発明者： 狩野 幸雄 ,  内藤 敦之
出願人/特許権者： 株式会社東海理化電機製作所
代理人 (1件)： 中島 淳 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-011732
公開番号（公開出願番号）：特開平9-203663
出願日： 1996年01月26日
公開日（公表日）： 1997年08月05日
要約：

【要約】【課題】 被測定物の大きさを測定すると同時に表面の色や凹凸、傷の有無を検出して自動的に選別することができる自動選別装置を提供する。【解決手段】 自動選別装置に設けられている投光装置から被測定物にスリット光が照射されると、スリット像が2次元CCDセンサに結像される。このスリット像に基づいて、2次元表面形状を算出し(106) 、被測定物の表面に凹凸や傷があるか否かを判定する(108) 。また、2次元表面形状に基づいて被測定物のスリット像毎に断面積を求め(110) 、色平均値を算出する(112) 。さらに、複数のスリット像に対して求められた断面積データに基づいて被測定物の体積を算出する(116) と共に、被測定物表面全体の色平均値を算出する(118) 。こうして算出された体積と色平均値に基づいて被測定物の選別を行うことができる(120) 。

請求項（抜粋）：

被測定物の状態を自動的に選別する自動選別装置であって、スリット光を射出する射出手段と、スリット光が被測定物に対して一端から他端にかけて連続移動するように被測定物とスリット光とを相対的に移動させる移動手段と、スリット光の反射光を受光し、スリット光を反射した被測定物上のスリット像を撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像された被測定物の一端から他端までの複数のスリット像に基づいて被測定物の表面形状を算出すると共に、それぞれの断面積を算出する形状算出手段と、前記撮像手段に撮像されたスリット像の色情報に基づいて被測定物の表面の色を算出する色算出手段と、前記形状算出手段及び前記色算出手段によって得られた結果に基づいて被測定物の良否を判定する判定手段と、を有する自動選別装置。