特許
J-GLOBAL ID：200903092557132896
相関マッチングの対応点位置計測方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
光石 俊郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-178022
公開番号（公開出願番号）：特開平8-043024
出願日： 1994年07月29日
公開日（公表日）： 1996年02月16日
要約：
【要約】【目的】 相関マッチング処理において、モデルとの対応点の位置を画像の分解能よりも精密に計測すること。【構成】 相関値計測部1により、入力画像8の各点毎に、モデルと同じ形状で且つ同じ大きさのパターンを切り出し、モデルと切り出したパターンとの相関値を計算し、各点での相関値の計算結果1aから、データ抽出部3により、相関が最も強い第1の点の位置A0 と、同第1の点での相関値C0 と、第1の点を含む一次元上で第1の点の直前に位置する第2の点での相関値C-1と、同一次元上で第1の点の直後に位置する第3の点での相関値C+1とを求め、大小関係判定部4により、第2の点での相関値C-1と第3の点での相関値C+1との大小関係を判定し、判定結果4aに応じて補間式選択部5により適切な補間式を選択し、選択した式により、補間演算部7でA0 ,C0 ,C-1,C+1を用いて入力画像におけるモデルとの対応点の位置Ar を求める。
請求項（抜粋）：
入力画像の各点毎に、モデルと同じ形状で且つ同じ大きさのパターンを切り出し、モデルと切り出したパターンとの相関値を相関が強いほど相関値が小さくなる計算式で計算すること;各点での相関値の計算結果から、相関が最も強い第1の点の位置A<SB>0 </SB>と、同第1の点での相関値C<SB>0 </SB>と、第1の点を含む一次元上で第1の点の直前に位置する第2の点での相関値C<SB>-1</SB>と、同一次元上で第1の点の直後に位置する第3の点での相関値C<SB>+1</SB>とを求めること;第2の点での相関値C<SB>-1</SB>と第3の点での相関値C<SB>+1</SB>との大小関係を判定すること;判定結果から、C<SB>-1</SB>>C<SB>+1</SB>の場合は下式(1)により、C<SB>-1</SB><C<SB>+1</SB>の場合は下式(2)により、入力画像におけるモデルとの対応点の位置A<SB>r </SB>を補間演算で求めること;を特徴とする相関マッチングの対応点位置計測方法。【数1】 A<SB>r </SB>=A<SB>0 </SB>-(1/2)(C<SB>-1</SB>-C<SB>+1</SB>)/(C<SB>0 </SB>-C<SB>-1</SB>) ...式(1)【数2】 A<SB>r </SB>=A<SB>0 </SB>+(1/2)(C<SB>+1</SB>-C<SB>-1</SB>)/(C<SB>0 </SB>-C<SB>+1</SB>) ...式(2)
IPC (3件)：
G01B 11/00
, G06T 7/60
, G06T 7/00
G06F 15/70 350 B
, G06F 15/70 460 A
