特許
J-GLOBAL ID：200903092564954567
残留塩素測定装置
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
福井 豊明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-359584
公開番号（公開出願番号）：特開平5-180799
出願日： 1991年12月28日
公開日（公表日）： 1993年07月23日
要約：
【要約】【目的】 残留塩素測定装置に関し、表示値の校正の確実性を損なうことなく、校正作業を自動化した残留塩素測定装置を提供することを目的とする。【構成】 次亜塩素酸ソーダ原液Sを収容した原液槽1と、脱塩処理された希釈水Wを一定量だけ収容する計量槽2と、上記原液槽1の次亜塩素酸ソーダ原液Sを一定量だけ計量する計量コック3と、上記計量コック3で計量された所定量の次亜塩素酸ソーダ原液Sを、計量槽2の希釈水Wで希釈し、所定値の次亜塩素酸ソーダ濃度とした校正液Cを貯留する希釈槽4と、上記校正液Cの次亜塩素酸ソーダ濃度を基準濃度として校正される残留塩素計5とを備える構成とする。
請求項（抜粋）：
次亜塩素酸ソーダ原液(S) を収容した原液槽(1) と、脱塩処理された希釈水(W) を一定量だけ収容する計量槽(2) と、上記原液槽(1) の次亜塩素酸ソーダ原液(S) を一定量だけ計量する計量コック(3) と、上記計量コック(3) で計量された所定量の次亜塩素酸ソーダ原液(S) を、計量槽(2) の希釈水(W) で希釈し、所定値の次亜塩素酸ソーダ濃度とした校正液(C)を貯留する希釈槽(4) と、上記校正液(C) の次亜塩素酸ソーダ濃度を基準濃度として校正される残留塩素計(5) とを備える残留塩素測定装置。
IPC (2件)：
G01N 27/416
, G01N 27/26 381
