特許
J-GLOBAL ID：200903092616403564
電磁波発生源探査方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-306212
公開番号（公開出願番号）：特開平11-142453
出願日： 1997年11月07日
公開日（公表日）： 1999年05月28日
要約：
【要約】【課題】電子機器内に存在する電磁波発生源の位置等を特定する。【解決手段】磁界発生源領域201上の格子点203に存在する求めるべき電流によって生じた、測定平面202で測定した近傍磁界測定値のx方向成分の分布を、近傍磁界測定が行われた格子点数分の次元を持ち、各格子点での測定値を各次元の値とした測定磁界合成複素ベクトル206として表し、格子点204に仮定した電流により生じる近傍磁界計算値のx方向成分を同様な複素ベクトル207として表す。各格子点上に仮定した電流毎に求めた両ベクトルの内積値の最大値を求めることで、実際の電磁波発生源の位置203を特定し、さらに、両者の内積値をベクトル207の大きさで除算することで、近傍磁界測定値のx方向成分に対応するy方向電流成分の大きさ、位相および位置の情報を得る。
請求項（抜粋）：
測定対象となる電子機器が発生する電磁波の発生源を探査する装置において、前記測定対象の近傍磁界の空間分布を測定する測定部と、測定された近傍磁界分布から逆算して前記電磁波の発生源を求める演算部とを備え、前記演算部は、前記測定対象内の互いに異なる複数の位置に電磁波発生源が存在すると仮定し、該仮定した各位置毎に予め定めた強度と位相の電磁波発生源が存在した場合に、前記測定部が近傍磁界を測定した測定点の各々に発生すると推定される近傍磁界の分布をそれぞれ算出する近傍磁界算出手段と、前記近傍磁界算出手段により算出された複数の近傍磁界分布の各々と、測定された近傍磁界分布との相関をそれぞれ求めることで、探査すべき発生源の位置、強度および位相を特定する発生源探査手段とを備えることを特徴とする電磁波発生源探査装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01R 29/08 D
, G01R 29/08 Z
, G01B 7/00 B
