特許

J-GLOBAL ID：200903092620151901

試験装置

発明者： 遠藤 剛
出願人/特許権者： 株式会社ハーネス総合技術研究所 ,  住友電装株式会社 ,  住友電気工業株式会社
代理人 (1件)： 吉田 茂明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-006389
公開番号（公開出願番号）：特開平10-206478
出願日： 1997年01月17日
公開日（公表日）： 1998年08月07日
要約：

【要約】【課題】 耐久試験の検出用負荷に生じる特性変化を緩和し試験精度を上げる。【解決手段】 試験すべき1個の有接点素子10に対して多端子切替スイッチ12を直列に接続し、有接点素子10のオンオフ切替に対応して複数の負荷R1〜R3を多端子切替スイッチ12で切替える。これにより1個当りの負荷R1〜R3の冷却時間が増え、負荷R1〜R3の動作が安定する。

請求項（抜粋）：

有接点素子の接点を繰返しオンオフ動作させて耐久試験を行う試験装置であって、複数の負荷と、前記有接点素子に直列に接続され前記複数の負荷を順次切替接続する多端子切替スイッチと、前記有接点素子および前記多端子切替スイッチの駆動タイミングを制御するタイミング制御手段とを備え、前記タイミング制御手段は、所定の時間を周期として前記有接点素子のオンオフ切替を行う第1のタイミング制御機能と、前記所定の時間毎に前記複数の負荷を順次切替接続するよう前記多端子切替スイッチを制御する第2のタイミング制御機能とを備えることを特徴とする試験装置。

IPC (3件)：

G01R 31/00 ,  G01R 31/02 ,  H01H 47/00

FI (3件)：

G01R 31/00 ,  G01R 31/02 ,  H01H 47/00 E