特許
J-GLOBAL ID：200903092661917021
光信号電界の時間波形測定方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
秋田 収喜
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-260816
公開番号（公開出願番号）：特開2001-083015
出願日： 1999年09月14日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
要約：
【要約】【課題】 被測定光信号の強度変動、または偏光の変動に高い耐性を有し、しかも、位相調整器や安定な干渉計を必要とせず、その結果、性能が長期間維持され、設置環境も選ばず測定が行える測定方法及び装置を提供する。【解決手段】 被測定光に対し、局発光を作用させて位相共役光を生成し、前記被測定光と前記位相共役光を合波して混合光を生成し、この混合光のスペクトルを観測し、前記被測定光の光信号電界の周波数領域での位相を測定する方法であって、前記混合光中の2つ以上のスペクトル成分の相対位相の変化に伴う前記2つ以上のスペクトル成分の強度の変化を比較し、2つ以上のスペクトル成分の間の相対的位相を測定する光信号電界の時間波形測定方法及び装置である。
請求項（抜粋）：
被測定光に対し、局発光を作用させて位相共役光を生成し、前記被測定光と前記位相共役光を合波して混合光を生成し、この混合光のスペクトルを観測し、前記被測定光の光信号電界の周波数領域での位相を測定する方法であって、前記局発光と前記被測定光との相対位相の変化に伴う前記混合光中の2つ以上のスペクトル成分の強度の変化を比較し、2つ以上のスペクトル成分の間の相対的位相を測定することを特徴とする光信号電界の時間波形測定方法。
引用特許：
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