特許
J-GLOBAL ID：200903092864917914
計測システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小沢 信助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-249976
公開番号（公開出願番号）：特開平5-087598
出願日： 1991年09月30日
公開日（公表日）： 1993年04月06日
要約：
【要約】【目的】 測定時における操作性を大幅に向上させることができる計測システムを提供することを目的としている。【構成】 各種測定ボードが収容されている架体と、該架体と接続されたコントローラと、該コントローラと接続されたメモリと、前記コントローラと接続された表示部とで構成された計測システムにおいて、前記メモリ内に各測定ボード毎のアイコンと、詳細なパネルイメージを格納しておき、測定開始にあたっては表示部に全てのアイコンを表示させ、表示されたアイコンの中からオペレータがそのうちの1個をセレクトすると、そのセレクトされたアイコンに対応した詳細なパネルイメージが表示部に表示されるように構成する。
請求項（抜粋）：
各種測定ボードが収容されている架体と、該架体と接続されたコントローラと、該コントローラと接続されたメモリと、前記コントローラと接続された表示部とで構成された計測システムにおいて、前記メモリ内に各測定ボード毎のアイコンと、詳細なパネルイメージを格納しておき、測定開始にあたっては表示部に全てのアイコンを表示させ、表示されたアイコンの中からオペレータがそのうちの1個をセレクトすると、そのセレクトされたアイコンに対応した詳細なパネルイメージが表示部に表示されるようにしたことを特徴とする計測システム。
引用特許：
前のページに戻る
