特許

J-GLOBAL ID：200903092948910508

距離測定装置

発明者： 赤須 雅平
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 曾我 道照 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-020196
公開番号（公開出願番号）：特開平6-230128
出願日： 1993年02月08日
公開日（公表日）： 1994年08月19日
要約：

【要約】【構成】 送光装置1からパルス光を発生し、物体7からの反射光を受光装置3で受光し、サンプルパルス発生回路4は基準タイミングから微小時間間隔づつ遅延させた時期にサンプルパルスを発生し、サンプルホールド回路5はサンプルパルスによって受光装置3の出力信号をサンプリングし、そのサンプル出力とサンプルパルスの遅延時間から処理装置6は物体7までの距離を演算する距離測定装置において、送光装置1のパルス光発生タイミングとサンプルパルス発生回路4のサンプルパルス発生の基準タイミングとを所定時間ずらすクロック遅延回路10を設けた。【効果】 電子回路の遅れ時間に相当する時間が補償され、距離測定に定常的な偏差や、距離測定不可となる領域がなくなり、装置の直前の物体から高精度な距離測定ができる。

請求項（抜粋）：

パルス光を発生する送光装置と、上記パルス光が照射された物体よりの反射パルス光を受光し電気信号に変換する受光装置と、複数回のパルス光発生を掃引周期として1回の掃引周期の中で基準タイミングに対し所定の距離に相当する微小時間間隔ずつ遅延させた時期にサンプルパルスを発生するサンプルパルス発生回路と、このサンプルパルス発生回路のサンプルパルスによって上記受光装置の出力信号をサンプリングするサンプルホールド回路と、このサンプルホールド回路の出力とサンプルパルスの遅延時間から上記物体の有無を検出し距離を演算する処理装置と、上記送光装置のパルス光発生タイミングを上記サンプルパルス発生回路のサンプルパルス発生の基準タイミングから所定時間遅らせる手段と、を備えた距離測定装置。