特許
J-GLOBAL ID：200903092952949877
長尺物の検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
深見 久郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-186987
公開番号（公開出願番号）：特開平9-031833
出願日： 1995年07月24日
公開日（公表日）： 1997年02月04日
要約：
【要約】【課題】 パターン密度に左右されず、同一光学条件で高精度に異常を検出できる長尺物の自動検査装置を提供する。【解決手段】 織布2をCCDカメラ4で撮像してその撮像した画像データをデジタル画像データに変換し、そのデジタル画像データを画像2値化回路10により経糸方向と緯糸方向とにそれぞれ2値化し、それらの第1の2値化画像データと第2の2値化画像データとを画像論理演算回路14によりAND論理演算し、その論理演算された第3の2値化画像データを利用して異常の有無の検査を行なうようにした。
請求項（抜粋）：
互いに交差する第1方向と第2方向との両方向に沿って表面が所定の規則性に従ったパターンを呈するように構成された長尺物を撮像し、前記パターンの規則性を利用して前記長尺物を検査する長尺物の検査装置において、少なくとも被撮像領域の前記長尺物に対し光を照射する投光手段と、前記長尺物に対する透過光および反射光のうちの少なくとも一方を集光して撮像する撮像手段と、該撮像手段から出力された画像データであってデジタル信号に変換されたデジタル画像データを、前記第1方向および第2方法の各々のしきい値に比べた大小関係に従って振り分けて2値化する2値化手段とを含み、前記2値化手段により2値化された2値化画像データを利用して長尺物の検査を行なうことを特徴とする、長尺物の検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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