特許

J-GLOBAL ID：200903093000840347

SQUID応用検査装置

発明者： 大高 正廣 ,  清水 禎人 ,  高久 和夫 ,  坂田 信二
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-143294
公開番号（公開出願番号）：特開平7-012779
出願日： 1993年06月15日
公開日（公表日）： 1995年01月17日
要約：

【要約】【構成】SQUIDセンサ及び検査材料の走査装置をホットラボ内に、SQUIDセンサのコントローラ及びクライオスタットへの冷媒の供給装置をホットラボ外に設置し、SQUIDセンサの検出部を延長し、ホットラボ内に差し込み一体化する。SQUIDセンサの冷媒は、カートリッジ方式で供給する。SQUIDセンサで、SQUID素子及びピックアップコイルをクライオスタットの真空部に配置し、熱伝導度の高い材料で製作した内部パイプにSQUID素子及びピックアップコイルを連結し、内部冷媒の蒸発をリークさせるための排気管をクライオスタット中央に配置する。【効果】ホットラボ内での照射材の計測でき、また、機器材料の損傷度を直接計測できる。

請求項（抜粋）：

原子力プラント等の機器を検査し、その損傷度を評価する検査装置において、照射を受けた機器材料を検査するセンサに放射線シールドを施し、微小な変化も検出できるSQUIDセンサを用い、前記、SQUIDセンサを管理区域でも冷却できる機構を備えたことを特徴とするSQUID応用検査装置。

IPC (2件)：

G01N 27/82 ,  G21C 17/003