特許

J-GLOBAL ID：200903093058497138

光変調装置及び記憶媒体

発明者： 梶 正憲
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
代理人 (1件)： 荒船 博司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-246096
公開番号（公開出願番号）：特開2001-075062
出願日： 1999年08月31日
公開日（公表日）： 2001年03月23日
要約：

【要約】【課題】 本発明の課題は、最適な動作点を予測しDCバイアスの初期値を予め設定することによって、最適動作点に収束するまでの時間を短縮するDCバイアス設定回路を提供する。【解決手段】 光通信用の光源LD1と、この出力光を強度変調する光変調器2と、強度変調した光信号から監視用の光信号を分岐する分岐回路3と、分岐された光信号を電気信号に変換するPD4と、この電気信号に基づきDCバイアスを設定し光変調器2に出力するDCバイアス設定回路5とを備えた光変調装置10において、DCバイアス設定回路5は、強度変調に最適な動作点を予測し、この動作点に基づきDCバイアスの初期値を設定し、その動作点における光信号の平均強度を算出し、この平均強度とPD4からの電気信号とを比較してDCバイアスの設定値を調整する。

請求項（抜粋）：

光通信用の光源と、この光源から出力された光信号を強度変調する光変調部と、この光変調部により強度変調された光信号から監視用の光信号を分岐する分岐部と、この分岐部により分岐された光信号を電気信号に変換する変換部と、この変換部により変換された電気信号を検出、参照して前記光変調部にDCバイアスを設定するDCバイアス設定部とを備えた光変調装置において、前記DCバイアス設定部は、光信号の平均強度を測定する複数の基準点を設定し、この設定した各基準点における光信号の平均強度を測定する平均強度測定手段と、前記平均強度測定手段により測定された平均強度に基づいて強度変調に最適である動作点を予測する動作点予測手段と、を備え、前記動作点予測手段により予測された動作点に基づいてDCバイアスを設定することを特徴とする光変調装置。

IPC (6件)：

G02F 1/01 ,  G02F 1/035 ,  H04B 10/152 ,  H04B 10/142 ,  H04B 10/04 ,  H04B 10/06

FI (4件)：

G02F 1/01 B ,  G02F 1/01 C ,  G02F 1/035 ,  H04B 9/00 L

Fターム (14件)：

2H079AA02 ,  2H079AA12 ,  2H079BA01 ,  2H079CA04 ,  2H079DA02 ,  2H079FA01 ,  2H079HA11 ,  2H079KA19 ,  5K002AA02 ,  5K002BA04 ,  5K002CA08 ,  5K002CA16 ,  5K002DA05 ,  5K002FA01