特許
J-GLOBAL ID：200903093095732155
分析計の感度劣化予知方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-078953
公開番号（公開出願番号）：特開平6-265374
出願日： 1993年03月13日
公開日（公表日）： 1994年09月20日
要約：
【要約】【目的】 分析計の故障を未然に防止し、長期にわたり安定して測定を行うことができる分析計の感度劣化予知方法を提供すること。【構成】 分析計3の校正を一定周期で行って、校正係数と分析計稼動時間とを記憶装置4に保存し、続いて、前記校正係数の変化率を演算して、校正不能事態が発生するまでの期間を予測し、しかる後、校正不能事態の発生以前に予め予備警報gを出力することからなる。
請求項（抜粋）：
分析計の校正を一定周期で行って、校正係数と分析計稼動時間とを記憶装置に保存し、続いて、前記校正係数の変化率を演算して、校正不能事態が発生するまでの期間を予測し、しかる後、校正不能事態の発生以前に予め予備警報を出力することからなる分析計の感度劣化予知方法。
IPC (3件)：
G01D 18/00
, G01D 21/00
, G01N 21/27
