特許

J-GLOBAL ID：200903093122799607

メモリ検査方法、プログラム及び記録媒体

発明者： 橋本 健一
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-119658
公開番号（公開出願番号）：特開2003-316657
出願日： 2002年04月22日
公開日（公表日）： 2003年11月07日
要約：

【要約】【課題】 DRAM等のメモリにおけるアドレスピンの実装状態を高速に検査する。【解決手段】 メモリ検査方法では、例えばDRAMのロウアドレス及びカラムアドレスを調べ、DRAMの物理的なアドレスピン全て使用しているアドレスを決定する(ステップS1)。次に、決定されたアドレスに対応する物理アドレスを算出し(ステップS2)、そのアドレスの全メモリ空間に物理アドレスをデータとして書き込む(ステップS3)。そして、このアドレスの全メモリ空間に対してデータを読み込み、ステップS3で書き込んだデータと比較する。ステップS3で書き込んだデータとステップS4で読み込んだデータとが一致していなければ、DRAMのアドレスピンに何らかの異常があると判断される。

請求項（抜粋）：

複数の部分アドレスによってランダムアクセスされるメモリにおけるアドレスピンの実装状態を検査するメモリ検査方法であって、上記複数の部分アドレスのうち、物理的なアドレスピン全てを使用している部分アドレスを検査対象アドレスとし、当該検査対象アドレスの全領域に対してデータを書き込む書込工程と、上記検査対象アドレスの全領域から上記データを読み込む読込工程と、上記書込工程で書き込みを行ったデータと上記読込工程で読み込みを行ったデータとを比較する比較工程とを有することを特徴とするメモリ検査方法。

IPC (2件)：

G06F 12/16 ,  G01R 31/28

FI (2件)：

G06F 12/16 B ,  G01R 31/28 B

Fターム (16件)：

2G132AA08 ,  2G132AB01 ,  2G132AC03 ,  2G132AE18 ,  2G132AE21 ,  2G132AE23 ,  2G132AG02 ,  2G132AL00 ,  2G132AL09 ,  5B018GA03 ,  5B018HA01 ,  5B018JA13 ,  5B018MA32 ,  5B018NA02 ,  5B018QA13 ,  5B018RA13