特許

J-GLOBAL ID：200903093164155866

小型疲労試験装置及び疲労試験方法

発明者： 久里 裕二 ,  中谷 祐二郎 ,  伊藤 義康 ,  石渡 裕
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (6件)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-429875
公開番号（公開出願番号）：特開2005-189064
出願日： 2003年12月25日
公開日（公表日）： 2005年07月14日
要約：

【課題】微小な供試体に対する高精度な疲労試験をその供試体の検査対象部品の材料特性に応じて効率的に行う。【解決手段】小型疲労試験装置11に備えられた磁歪アクチュエータ18を制御装置24にて駆動制御して供試体15の疲労試験を行う。その際、制御装置24では、寿命予測部35を通じて予め供試体15の検査対象となる部品の材料特性および疲労特性に基づいて当該検査対象部品の寿命を予測し、その予測結果として得られた寿命予測データに基づいて供試体15を疲労試験する際の試験条件を決定する。この試験条件に従って磁歪アクチュエータ18を駆動制御して疲労試験を行うことで、材料特性が異なる様々な部品に対し、これらの部品に適切な負荷を与えて疲労試験を効率的に行うことができる。【選択図】 図4

請求項（抜粋）：

基台に装着された供試体を支持する支持機構と、この支持機構に支持された上記供試体に対して所定の負荷を与える磁歪アクチュエータとを備えた小型疲労試験装置において、 予め上記供試体の検査対象となる部品の材料特性および疲労特性に基づいて当該検査対象部品の寿命を予測する寿命予測手段と、 上記寿命予測手段によって得られた寿命予測データに基づいて上記供試体を疲労試験する際の試験条件を決定する試験条件決定手段と、 この試験条件決定手段によって決定された試験条件に従って上記磁歪アクチュエータを駆動制御して疲労試験を行う駆動制御手段と を具備したことを特徴とする小型疲労試験装置。

IPC (2件)：

G01N3/32 ,  G01N3/34

FI (3件)：

G01N3/32 E ,  G01N3/34 C ,  G01N3/34 D

Fターム (16件)：

2G061AA07 ,  2G061AA08 ,  2G061AB05 ,  2G061BA03 ,  2G061BA15 ,  2G061CB16 ,  2G061DA03 ,  2G061DA07 ,  2G061DA12 ,  2G061DA16 ,  2G061EA01 ,  2G061EA10 ,  2G061EB03 ,  2G061EB05 ,  2G061EB07 ,  2G061EC04

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 小型材料試験装置および材料試験方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-107107   出願人：財団法人電力中央研究所
• 材料試験機
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-291226   出願人：白鳥正樹, 于強, 日本たばこ産業株式会社